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專一于半導體設備電機械性能檢驗

普賽斯儀表關于《SiC功率半導體模塊測試挑戰及應對》的主題演講

起源:admin 期限:2024-07-05 17:07 打開網頁量:1720
        新自然發熱能源新小轎車加入率剛剛達50%,加上風光電子教育領域對電率摸塊的供需越越高,電率摸塊遭到矚目。2026年12月5日,艾邦第三步屆電率半導IGBT/SiC工業貼吧在上海召開多媒體。多媒體很多制造業精英型同心同德提升之策,從新自然發熱能源新小轎車電驅與電子控制系統制造業、光儲及直流電源制造業、氧化物半導材質制造業、電率半導制造業、二極管封裝與測試圖片制造業等與眾各種不同工業鏈各個環節考慮,找尋與眾各種不同達到路徑分析,催進工業的企業創新與可長期提升。

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        作為國內率先實現高精度數字源表(SMU)產業化的半導體測試裝備優質供應商,普賽斯儀表副總經理王承博士受邀出席并發表《SiC馬力半導體設備控制模塊測試軟件挑戰模式及規避》主題演講。

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1、跟著光電器件芯片技術應用的持續性突飛猛進,制造方法的不間斷大幅提升,對光電器件芯片元器件封裝的各種測試和驗正運行逐漸首要。2、隨著時間的推移制造行業發展壯大,產家這對于測量的消費需求由原本的CP+FT模型擴張至CP+KGD test +DBC test+FT,和收錄SLT測量等。3、是怎樣高精度檢測工率電子元件在高流/直流電水平下的I-V曲線美或其他靜態式的因素,變的足見首要。


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        會上,普賽斯儀表副總經理王承博士闡述了如何準確可靠地實現SiC功率器件的測試方案,以新能源領域車規級功率器件參數測試為切入點,分享了在新能源領域功率器件成套解決方案等方面的關鍵舉措。本場演講重點介紹了普賽斯儀表實驗室、高低溫、產線半自動/全自動等功率半導體靜態參數測試解決方案,廣泛(fan)適用于從實驗室到小批(pi)量(liang)、大(da)批(pi)量(liang)產(chan)(chan)線的(de)全方(fang)位(wei)應用,幫助(zhu)國產(chan)(chan)功率(lv)半(ban)導體廠商(shang)加快(kuai)研發(fa)測(ce)試以及批(pi)量(liang)化(hua)生產(chan)(chan)進程。


        普賽斯工作功率集成電路封裝靜態式的主要參數考試裝置,是武漢普賽斯經過精心設計與打造的高精密電壓/電流測試分析系統。該系統不僅提供IV、CV、跨導等(deng)多元化的(de)(de)測(ce)(ce)試功能,還具備高(gao)精度(du)、寬測(ce)(ce)量范圍、模塊化設計以(yi)及便捷的(de)(de)升級擴展(zhan)等(deng)顯著優勢(shi)。其設計初(chu)衷在于全面滿足從基礎功率二(er)極(ji)管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導體SiC、GaN等(deng)晶圓(yuan)、芯片、器件(jian)及模塊的(de)(de)靜態參(can)數表征和測(ce)(ce)試需(xu)求,確保(bao)測(ce)(ce)量效率、一致性與可(ke)靠性的(de)(de)優異表現。

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PMST輸出(chu)功率(lv)配件(jian)靜(jing)態(tai)數據(ju)運(yun)作(zuo)自測軟件(jian)系統(tong)


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PSS TEST靜態數據高低(di)溫環境(jing)半全自(zi)動測試設備


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PMST-MP 靜態(tai)式(shi)的規格手動化(hua)(hua)化(hua)(hua)自測體系


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PMST-AP 靜(jing)態變量數據全手(shou)動化測試軟(ruan)件平(ping)臺(tai)


大電流輸出響應快,無過沖


        服務性研制的高作用單智能造成的式大直流電壓源及高壓力源,其輸出開發整個過程異常發展,且無過沖想象。在檢查教學環節,大直流電壓的類型上升時時間段僅為15μs,單智能造成的高寬比可在50~500μs直接輕松優化。運用四種單智能造成的大直流電壓檢查的方式,就可以差異性有效降低因元器件內在低熱所造成的不確定度,為了確保檢查可是的精確性性與是真的嗎性。

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高壓測試支持恒壓限流,恒流限壓模式


        自主學習研發團隊的高耐腐蝕性各類高壓源,其所在搭建與掉線反應在短時間內,且無過沖現狀。在對其進行額定電壓電流大小擊穿額定電壓電流大小檢測時,可利索調節電流大小受限制或額定電壓電流大小限制值,以保證 產品不因過壓或過流而遭到破壞,更好保障功率器件的應急性和穩固性。

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        普賽斯儀表作為半導體電性能測試領域的權威解決方案供應商,始終秉持創新技術與匠心精神的融合,深耕于功率半導體市場。







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