當前位置:国产精品一区视频-国产午夜亚洲精品午夜鲁丝片-国产免费一区视频观看免费-国产一区二区在线观看视频 > 產品中心 > 半導體測試機 > PMST功率器件靜態(tai)參數測試系(xi)統
● 高(gao)電壓達3500V(最大擴(kuo)展(zhan)至12kV)
● 大(da)電流(liu)達6000A(多模塊并(bing)聯)
● nA級漏電流μΩ級導通電阻(zu)
● 高精度測量(liang)0.1%
● 模塊化配置(zhi),可(ke)添(tian)加或升級測量(liang)單元(yuan),可(ke)提供了IV、CV、跨導等多種(zhong)功(gong)能鍵的綜上考試
● 測(ce)試效率(lv)高,自動切(qie)換、一鍵(jian)測(ce)試
● 溫度范圍廣,支持(chi)常溫、高(gao)溫測試(shi)
● 兼容多(duo)種(zhong)封裝,根據(ju)測試需(xu)求定制夾具



測試項目
● 二極管:反向擊穿電壓VR、反向漏電流IR、正向電壓VF、正向電流IF、電容值Cd、I-V曲線、C-V曲線
● 三極管:V(BR)CEO、V(BR)CBO、V(BR)EBO、ICBO、VCE(sat)、VBE(sat)、IC、IB、Ceb、增益hFE,輸入特性曲線、輸出特性曲線、C-V特性曲線
● Si MOS/IGBT/SiC MOS/GaN HEMT:V(BR)DSS/V(BR)CES、IDSS/ICES、VCE(sat)、RDS(on)、VSD/VF、VGS(th)/VGE(th)、IGSS/IGES柵極內阻(zu)Rg、輸入電容(rong)Ciss/Cies、輸出電容(rong)Coss/Coes、反向(xiang)傳輸電容(rong)Crss/Cres、跨導gfs、輸出特(te)性曲線(xian)、轉移特(te)性曲線(xian)、C-V特(te)性曲線(xian)
● 光耦(四(si)端口以下):IF、VF、V(BR)CEO、VCE(sat)、ICEO、IR、輸入(ru)電(dian)容(rong)CT、輸出(chu)電(dian)容(rong)CCE、電(dian)流傳輸比CTR、隔(ge)離(li)電(dian)容(rong)CIO
系統優勢
1、IGBT等(deng)大功率器(qi)件(jian)(jian)由于其(qi)功率特(te)點(dian)極易產生(sheng)大量熱(re)量,施加應力時(shi)間長,溫度迅速上升,嚴重(zhong)時(shi)會使器(qi)件(jian)(jian)損壞,且(qie)不符合器(qi)件(jian)(jian)工作(zuo)特(te)性。普賽(sai)斯高壓(ya)(ya)變(bian)壓(ya)(ya)器(qi)模快(kuai)加入的(de)耗時(shi)不低(di)于5ms,在測試測試方(fang)式中夠縮短(duan)待(dai)測物加電耗時(shi)的(de)低(di)熱(re)。

2、壓力下(xia)(xia)漏(lou)電流的測(ce)試(shi)(shi)(shi)業(ye)務能(neng)力不(bu)同凡響,測(ce)試(shi)(shi)(shi)遍布率遠遠高(gao)于(yu)(yu)國際上(shang)品牌。市面上(shang)絕大(da)多數器(qi)件(jian)的規格書顯示(shi),小模塊在高(gao)溫(wen)測(ce)試(shi)(shi)(shi)時(shi)漏(lou)電流一般大(da)于(yu)(yu)5mA,而車規級三相(xiang)半橋高(gao)溫(wen)下(xia)(xia)漏(lou)電大(da)于(yu)(yu)50mA。以HITACH Spec.No.IGBT-SP-05015 R3規格書為例(li):3300V,125℃測(ce)試(shi)(shi)(shi)條件(jian)下(xia)(xia)ICES典型(xing)值14mA,最大(da)40mA。普賽斯靜態(tai)系統高(gao)壓模塊測(ce)試(shi)(shi)(shi)幾乎可(ke)以完美應對所有類(lei)型(xing)器(qi)件(jian)的漏(lou)電流測(ce)試(shi)(shi)(shi)需求。
IGBT冗余測評(ping)圖(tu)片(pian)系統(tong)的(de)大感應功(gong)率(lv)引擎:50us—500us 的(de)可調節(jie)為感應功(gong)率(lv)脈寬,增漲邊沿在(zai)(zai) 15us(基本特(te)征值(zhi)),限制(zhi)待測物(wu)在(zai)(zai)測評(ping)圖(tu)片(pian)期間中的(de)變燙(tang),使測評(ping)圖(tu)片(pian)結果顯示愈來愈較準。下圖(tu)為 1000A 波形:

4、短時間利索(suo)的(de)(de)客制化車(che)床夾具化解計(ji)劃方案(an):強大的(de)(de)測(ce)試(shi)夾具解決方案(an)對于保(bao)證操作人員安(an)全和支(zhi)持各種(zhong)功率(lv)器件封裝類型極(ji)為重要。不論器件的(de)(de)大小或形狀(zhuang)如何,普賽(sai)斯(si)均可以快速(su)響(xiang)應用戶需求(qiu),提供(gong)靈活的(de)(de)客制化夾具方案(an)。夾具具有低(di)阻(zu)抗、安(an)裝簡單(dan)(dan)、種(zhong)類豐(feng)富等特點,可用于二極(ji)管(guan)、三極(ji)管(guan)、場效應晶體管(guan)、IGBT、SiC MOS、GaN等單(dan)(dan)管(guan),模組類產品的(de)(de)測(ce)試(shi)。
| 項目 | 最大電壓 | 最大電流 | 精度 | 漏電流測試量程 |
|---|---|---|---|---|
| 集探針-發極 | 3500V | 6000A | 0.1% | 1μA-100mA |
| 項目 | 最大電壓 | 最大電流 | 精度 | 最小電流量程 |
|---|---|---|---|---|
| 柵極-發送極 | 300V | 1A(直流電源)/10A(脈沖激光) | 0.1% | 10nA |
| 項目 | 基本測試精度 | 頻率范圍 | 電容值范圍 |
|---|---|---|---|
| 電解電容測量 | 0.05% | 0.05% | 0.01pF-9.9999F |
PMST熱效率電子元器件靜態式的設備不同的金橋銅業跨接線的截面積大小增加主要參數關聯性:
| 型號 | 大電流源測單元規格 | 大電流源測單元數量 | 高壓源測單元規格 | 高壓源測單元數量 | 最大電壓/電流 |
|---|---|---|---|---|---|
| PMST1203 | 300A/30V | 1 | 1200V/100mA | 1 | 1200V/300A |
| PMST1210 | 1000A/18V | 1 | 1200V/100mA | 1 | 1200V/1000A |
| PMST2210 | 1000A/18V | 1 | 2200V/100mA | 1 | 2200V/1000A |
| PMST3510 | 1000A/18V | 1 | 3500V/100mA | 1 | 3500V/1000A |
| PMST3520 | 1000A/18V | 2 | 3500V/100mA | 1 | 3500V/2000A |
| PMST8030 | 1000A/18V | 3 | 8000V/100mA | 1 | 8000V/3000A |
在線
咨詢
掃碼
下載