7月8日，2024慕尼黑上海電子展在上海新國際博覽中心開幕，本屆展會以新能源汽車、儲能、智能駕駛、衛星通信、機器人、可穿戴、智能建筑、邊緣智能、智慧電源、第三代半導體等應用領域為年度熱門趨勢，匯聚國內外優質電子企業，旨在打造從產品設計到應用落地的橫跨產業上下游的專業展示平臺。普賽斯儀表攜半導體測試測量設備及測試解決方案亮相E7館 7162展位。

        半導枝術房產用作光電數據打造業堡壘，是市場市場經濟市場經濟和市場市場經濟提升的戰術性、先導性和地基性房產， 觸及更多較為先進科學研究枝術。“碳達峰”、“碳中合”夢想也時特別指出和明確指出了再生資源構造調整目標，第三步將節能公司碳排放、低碳技術市場市場經濟市場經濟推上高潮時。以IGBT為帶表的額定功率半導枝術是供用電光電裝置的主導元器件封裝，也是再生資源轉移與傳遞的的關鍵。

        在新能源汽車、光伏儲能、軌道交通、工業控制等領域，無定形碳硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等第三代半導體材料由于其具有高溫、高壓、高頻、抗輻射等特點備受青睞，可實現更高效的電子電力設備。然而，由于其上市應用時間相對較短，潛在的缺陷尚未完全暴露，失效機制也尚未清晰。因此，通過科學課的試驗檢測方法手段，對其(qi)進行有效的評(ping)估(gu)和(he)驗證尤(you)為(wei)重(zhong)要。

        通常，IGBT/SiC/GaN功率半導體器件特性測試分為靜態特性測試和動態特性測試，靜態特性測試主要是表征器件本征特性指標，如擊穿電壓 V(BR)DSS、漏電流ICES/IDSS/IGES/IGSS、閾值電壓VGS(th)、跨導Gfs、壓降VF 、導通內阻RDS(on)等；動態(tai)特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)是功率半導(dao)體器(qi)件的重要特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)，如開通特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、關斷特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、FRD反向恢復特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、柵極電(dian)荷特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、短路特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、模(mo)塊電(dian)感特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、安全(quan)工作區SOA特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)等，主要采用雙脈沖測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)進(jin)行。

深度融合

  功率半導體電性能表征一站式解決方案  

                普賽斯智能儀表以管理處源表為內在，把握電率半導體行業材料公測具體需求，從最底層開發著眼，加大力度促使多維工藝性的重構革新，對管理處工藝性扶貧迎難而上，博覽會現場出展了電率半導體行業材料靜態式的公測一體化克服方案范文。

PMST系列功率器件靜態參數測試系統

        PMST系列功率器件靜態參數測試系統集多種測量和分析功能于一體，不僅提供IV、CV、跨導等多元化的測試功能，具備高電壓和大電流特性（10kV/6000A），以及μΩ級精確電阻測量和nA級漏電流測量能力，能夠全面滿足從基礎功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態參數表征和測試需求。層面要點電子儀表均獨立研發部，憑借其優(you)異的(de)性能、靈活的(de)配置(zhi)和易操(cao)作的(de)用戶界(jie)面，成為眾多功率半導(dao)體廠家(jia)靜態參數(shu)測試的(de)優(you)選工(gong)具(ju)。

SPA6100半導體材料因素講解儀

        SPA6100半導體參數分析儀可以同時支持DC功率-交流電壓值(I-V)、電容（電容器）-交流電壓值(C-V)以及高流直流高壓下脈沖激光式I-V性的測試。產品支持最高1200V工作電壓、100A大工作交流電、1pA小工作交流電糞便率的測(ce)(ce)量，同時檢(jian)測(ce)(ce)10kHz至1MHz范圍內(nei)的多頻AC電容(rong)測(ce)(ce)量。搭載專(zhuan)用半導體參數測(ce)(ce)試軟件,支持交互式手(shou)動操作或(huo)結合探針(zhen)臺(tai)的自動操作,能夠從測(ce)(ce)量設置、執(zhi)行、結果分析到數據管理的整個過程，實(shi)現高(gao)效和可重復的器(qi)件表(biao)征(zheng)；也可與高(gao)低(di)溫箱(xiang)、溫控模(mo)塊等搭配使用，滿足高(gao)低(di)溫測(ce)(ce)試需求。

        與此同時，為融入各類額定功率器材封裝形式形式的使用需求，普賽斯義表可出示各樣化、精準化、定制網站化的卡具完成方案設計，可覆蓋住TO單管、半橋模組、380V半橋模組等物料的考試。

        展會現場，普賽斯儀表還展示了自主研發的核心源表型號(SMU)、輸入脈沖恒流源 (FIMV)、直流高壓電原 (FIMV、FVMI)、數據文件采集程序卡等產品，以及從材(cai)料、晶圓到器(qi)件的半導體全產業鏈電性能測試解決方案，吸引了眾多業內人士的關注。

結語

        低碳化、智能化是整個電子信息產業的長遠發展目標，也是未來的主旋律，而實現目標需要產業鏈的協同努力。信得過高效性的檢測機，是半導體材料職業提升和努力不能不或缺的首要方面一個。

        普賽斯儀器儀表看做內部第二家成功創業變現高精度儀器源/校正標段SMU第三工業化的工廠，掌握二十多年的的技術工藝沉積和自主去創新工作成效，以后將不斷嚴格要求自己自主去創新驅動發展方向程序、持繼加大放入研發管理放入，以來詢異的測試軟件的技術工藝助推器第三領域發展方向!